原子力超分辨荧光显微镜（ HM-SR-AFM）

产品介绍

       原子力显微镜（AFM）是一种高空间分辨率的形貌成像技术，并能进行力学研究，但AFM难以提供分子种类信息。根据STORM和AFM各自的优缺点，提出一种新型的超分辨荧光和形貌显微镜（AFM-STORM）联用技术，同步实现超高分辨的荧光和形貌成像。

技术参数 >

· 联用系统成像范围:50 mm×50 mm

· AFM显微镜分辨率:横向分辨率为 10 nm     垂直分辨率为 0.1 nm

· STORM 成像分辨率:20nm

· AFM显微镜采集速度:＜60s  @ 128 point / line 

· AFM最大可测样品深度：6mm

· AFM扫描范围:不小于100mm×100mm×10mm 

· AFM测量头尺寸:143mm×158mm×53mm

· AFM测量头重量:1.25kg

· 联用样品台行程:12mm×12mm

原子力显微镜（AFM）工作原理及成像示意图